莆田销售二手ICT报价及图片

求购以下测试设备： 德律泰：TRI8100LV 、TRI5001E 、TRI518SII 安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c 测试机配件板卡：agilent3070 i1000 数字开关板、 XTP Control car、 ASRU CAR 泰瑞达 Teardyne pin car Ulta2 SYSTEM CONTROLLER TRI8100LV ATM Car 、pin car、 TRI5001E :ATM SMB 数字开关板、DUT电源板 以上设备测试设备和配件都打包回收， 不管设备好坏，闲置，需要处理.

销售，租赁各品牌二手ICT在线测试仪TRI518SII、 TRI5001E、agilent3070、agilent i1000D、泰瑞达ICT、Teradyne TSLH TSLX TS124 TS128提供工厂ICT测试技术支持，的团队、质量、技术可靠、售后无忧。支持工厂闲置设备 回收、维修、升级处理，欢迎咨询,24小时在线！
安捷伦科技公司(Agilent)日前宣布其Medalist i1000D在线测试系统现已具有数字测试能力。
i1000D成为迅速成长和填补高功能性在线测试仪与低端制造缺陷分析仪间空缺的解决方案。
为向对成本敏感的制造商提供具有模拟和数字能力的解决方案，解决当前极为复杂的印制电路板组件(PCBA)各种问题，i1000D提供：
·每一引脚的编程能力
·基于数字 PCF/VCL 库的测试
·标准的内建边界扫描测试
·I2C/SPI 串行编程
·简单、的长线测试夹具
·灵活而易于使用的图形用户界面
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。

泰瑞达：Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya测试飞针：APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上设备整机板卡配件都回收： 安捷伦Agilent3070板卡.
ICT能够将上述故障或不良资讯以印表机印出
测试结果，包括故障位置、零件标准值、测试值，
以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技
术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
4.能够将测试不良资讯统计，生产管理人员加以
分析，可以找出各种不良的产生原因，包括人为
的因素在内，使之各个解决、完善、指正，藉以
提升电路板制造及品质能力。
正是由于ICT以上功能所带给客户的效益，
才有今天ICT得已广泛运用的现实！
1．产量增加：ICT在线测试仪的检测速度非常快，
如300个元件的线路板约3秒钟全部检测，比人工
检测时间大大缩短，产量可大大提高。
2．降低成本：
A.使维修工作简单化,维修速度加快,减少维
修人员，降低维修成本,
B.降低因误判而损坏的元件成本，
C.减少维修备品库存!
3．使产品一次良品率提高：提供大量的统计数据，
以便生产管理者对生产工艺进行及时监督,调整,管理

安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率，可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程，测量值更加合理

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

Keysight i3070 系列 6 系统提供了一个新的模拟激励和响应单元（ASRU）卡，其中包含新的数字测量电路（DMC），能够为系统提供额外的特性和提高系统模拟测试速度（可达到总模拟测试时间的20％）。
Keysight i3070 系列 6 系统可以满足这一需求。系列 6 ICT 系统采用成熟的技术精心设计，测试效率相比以前的产品大大提升。系列 6 包含久经考验的软件、硬件和编程功能，完全兼容以前的系统，并且可以执行高度可重复的测量。系列 6 ICT 还提供新的基础架构，能够允许制造商更轻松地并入外部电路以提高测试覆盖率，同时改善对外部电路的控制。深圳市木士电子有限公司二手ICT测试仪
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