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冷镜式露点仪原理
不同水份含量的气体在不同温度下的镜面上会结露。采用光电检测技术，检测出露层并测量结露时的温度，直接显示露点。镜面制冷的方法有：半导体制冷、液氮制冷和高压空气制冷。
被测湿气进入露点测量室时掠过冷镜面，当镜面温度湿气的露点温度时，镜面呈干燥状态，此时光电检露装置中光源发出的光照在镜面上，几乎完全反射，由光电传感器感应到并输出光电信号，经控制回路比较、放大、驱动热电泵，对镜面致冷。当镜面温度降至湿气露点温度时，镜面上开始结露（霜），光照在镜面上出现漫反射，光电传感器感应到的反射信号随之减弱，此变化经控制回路比较、放大后调节热电泵激励，使其制冷功率适当减小，后，镜面温度保持在样气露点温度上。镜面温度由一紧贴在冷镜面下方的铂电阻温度传感器感应，并显示在显示窗上。新能源公司仪器外校

湿度被定义为气体中水蒸气的含量，是一个重要的环境参数，常用单位有：克/升，PPM，mmHg，露点及相对湿度等。测量气体湿度的基本量是混合比，即水蒸气质量和干气质量之比，用重量法湿度计得以实现。但用重量法测量混合比技术难度大、操作繁琐，实际测量湿度量值大多数采用露点。习惯上以露点-20℃为界把所测气体分为高湿度气体与低湿度气体（即微量水）。

大气中的水蒸气影响着自然界的物理、化学和生物过程。湿度影响气体的热、电、光和传递方面的特性。环境湿度还影响固体和液体材料中的水分含量，引起材料的尺寸变化，金属材料的腐蚀，甚至决定生物体的存亡。湿度测量和控制广泛应用于航空航天、微电子、原子能、石油化工、电力、气象、仓储等领域。鉴于湿度测量的重要性，各国都在不断更新改造其湿度标准。

电传感器式露点仪

采用亲水性材料或憎水性材料作为介质，构成电容或电阻，在含水份的气体流经后，介电常数或电导率发生相应变化，测出当时的电容值或电阻值，就能知道当时的气体水份含量。建立在露点单位制上设计的该类传感器，构成了电传感器式露点分析仪。国际上达到±1.0℃(露点温度)，一般精度可达到±3℃以内。

目前世界上生产电传感器式露点仪的公司，如MICHELL公司的EASIDEW ON-LING、一般精度可达到±3℃以内。还有VAISALA公司的DMT242、DMT143，DMT340系列。新能源公司仪器外校

扫描电子显微镜（SEM）是一种大型精密仪器，它利用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像。在1932年，Knoll提出了扫描电子显微镜（SEM）可以用于成像放大的概念，并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而，由于不能获得高分辨率的样品表面电子像，SEM一直未能得到进一步发展，仅被用作电子探针X射线微分析仪中的辅助成像装置。

直到1938年，德国科学家阿登纳成功研制出台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。此后，在众多科学家的努力下，SEM从理论到仪器结构等方面的问题逐渐得到解决。
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1965年，英国剑桥仪器公司生产的台SEM作为商品出现，它采用二次电子成像技术，分辨率为25纳米，使SEM进入了实用阶段。

1968年，Knoll在美国芝加哥大学成功研制出场发射电子枪，并将其应用于SEM，获得了较高分辨率的透射电子像。1970年，他发表了用扫描透射电镜拍摄的铀和钍中的铀原子和钍原子像，这使SEM又进入了一个新的领域。

2021年，全数字化扫描电子显微镜新品在无锡惠山发布，标志着SEM技术的不断发展和进步。

电子信号的收集与处理系统

在样品室中，扫描电子束与样品发生相互作用后产生多种信号，其中包括二次电子、背散射电子、X射线、吸收电子、俄歇(Auger)电子等。在上述信号中，主要的是二次电子，它是被入射电子所激发出来的样品原子中的外层电子，产生于样品表面以下几nm至涡街流量计几十nm的区域，其产生率主要取决于样品的形貌和成分。通常所说的扫描电镜像指的就是二次电子像，它是研究样品表面形貌的有用的电子信号。检测二次电子的检测器的探头是一个闪烁体，当电子打到闪烁体上时，就在其中产生光，这种光被光导管传送到光电倍增管，光信号即被转变成电流信号，再经前置放大及视频放大，电流信号转变成电压信号，后被送到显像管的栅极。

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